我们这里采用振动声学法进行绝缘子探伤。每一个固体均有自己的固有频率，当其本身特性发生变化时会影响其刚性强度；换言之，存在缺陷的绝缘子和完整的绝缘子在其固有特性上有很大差别，研究表明，当柱状绝缘子材质发生变化、内部产生损伤时，均会影响其固有特性。我们利用这一点，从绝缘子底部施加一震动激励，当激励频率于检测绝缘子频率接近时，会使绝缘子发生共振，通过分析绝缘子震动频谱，确定其共振范围。在等到共振频率后，通过傅氏算法和统计拟合得到对应数据。通过数据建模和测试表明，当在柱状绝缘子底部施加震动应力时，各个厂家的绝缘子，正常频谱结论应该在4K-5KHz范围发生共振响应，当绝缘子下端存在缺陷时，在1K-3KHz也会有响应共振响应，当上部发生缺陷时，8K-10KHz会有响应共振响应。
